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Tipo: Dissertação
Título: Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular
Título(s) alternativo(s): Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique
Autor(es): Silva, Saimon Filipe Covre da
Primeiro Orientador: Ferreira, Sukarno Olavo
Primeiro coorientador: Munford, Maximiliano Luis
Segundo coorientador: Couto, Marcos da Silva
Primeiro avaliador: Anjos, Virgilio de Carvalho dos
Segundo avaliador: Carvalho, Alexandre Tadeu Gomes
Abstract: Este trabalho consiste na caracterização ótica de filmes de CdMnTe crescidos sobre substratos de vidro. Os filmes foram depositados pela técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE) e caracterizados através de espectroscopia ótica e elipsometria. Foram determinados parâmetros como gap dos filmes em função da concentração de manganês. Podemos comprovar o aumento do gap com o aumento da concentração de manganês. As franjas de interferência nos mostram a boa qualidade dos filmes crescidos. Através da técnica de elipsometria podemos observar o comportamento do índice de refração e do coeficiente de extinção em função da concentração de manganês. Foram obtidos também os valores da espessura e taxa de crescimento dos filmes.
This work consists of the optical characterization of CdMnTe films grown on glass substrate. The films were deposited by the technique of molecular beam epitaxy (MBE) and characterized by optical spectroscopy and ellipsometry. The energy gap for films with different manganese concentration was determined. We demonstrate the increase in gap energy as concentration of manganese increases. The pronounced interference fringes observed show the good optical quality of the films grown. By ellipsometry technique we can observe the behavior of the refractive index and extinction coefficients a function of manganese concentration. We have also obtained values of sample thickness and growth rate.
Palavras-chave: Caracterização ótica
Epitaxia
MBE
Elipsometria
CdMnTe
Optical characterization
Epitaxy
MBE
Ellipsometry
CdMnTe
CNPq: CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
Idioma: por
País: BR
Editor: Universidade Federal de Viçosa
Sigla da Instituição: UFV
Departamento: Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.
Programa: Mestrado em Física Aplicada
Citação: SILVA, Saimon Filipe Covre da. Optical characterization of CdMnTe thin films grown by Molecular Beam Epitaxy technique. 2012. 81 f. Dissertação (Mestrado em Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.) - Universidade Federal de Viçosa, Viçosa, 2012.
Tipo de Acesso: Acesso Aberto
URI: http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259
Data do documento: 20-Jul-2012
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