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Autor(es)
Tipo
Fev-2019
Local roughness exponent in the nonlinear molecular-beam-epitaxy universality class in one dimension
Ferreira, Silvio C.
;
Luis, Edwin E. Mozo
;
Assis, Thiago A. de
;
Andrade, Roberto F. S.
Artigo
5-Fev-2018
Optimal detrended fluctuation analysis as a tool for the determination of the roughness exponent of the mounded surfaces
Luis, Edwin E. Mozo
;
Assis, Thiago A. de
;
Ferreira, Silvio C.
Artigo